在生產(chǎn)制造、質(zhì)量檢測等行業(yè),薄膜測厚儀是一種常用的檢測工具。通過(guò)這款儀器,我們能夠精準地測量出薄膜的厚度,進(jìn)一步確保產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。然而,許多人在使用測厚儀時(shí),卻不知道如何正確讀數。測厚儀主要依靠電磁場(chǎng)、渦流、超聲波等方法,對薄膜的厚度進(jìn)行測量。不同類(lèi)型的測厚儀,采用的方法也不同。

1、電磁場(chǎng)測厚儀
電磁場(chǎng)測厚儀主要依靠電磁波測量薄膜厚度。在測量過(guò)程中,測厚儀發(fā)射電磁波,當電磁波遇到薄膜時(shí),會(huì )發(fā)生反射。通過(guò)分析反射波的頻率,我們能夠計算出薄膜的厚度。
讀數方法:將測厚儀緊貼薄膜表面,調整測頭位置,使其與薄膜表面接觸。然后按下測量鍵,等待儀器自動(dòng)完成測量。測量完成后,液晶屏幕上會(huì )顯示薄膜的厚度值。
2、渦流測厚儀
渦流測厚儀通過(guò)測量薄膜表面的電渦流,來(lái)計算薄膜厚度。在測量過(guò)程中,渦流測厚儀發(fā)射高頻交流電,當交流電遇到薄膜時(shí),會(huì )在薄膜表面產(chǎn)生渦流。通過(guò)分析渦流的大小,我們能夠計算出薄膜的厚度。
讀數方法:將測厚儀緊貼薄膜表面,調整測頭位置,使其與薄膜表面接觸。然后按下測量鍵,等待儀器自動(dòng)完成測量。測量完成后,液晶屏幕上會(huì )顯示薄膜的厚度值。
3、超聲波測厚儀
超聲波測厚儀通過(guò)發(fā)射超聲波,并接收反射波來(lái)測量薄膜厚度。在測量過(guò)程中,超聲波測厚儀發(fā)射超聲波,遇到薄膜后,超聲波會(huì )發(fā)生反射。通過(guò)分析反射波的時(shí)間差,我們能夠計算出薄膜的厚度。
讀數方法:將測厚儀緊貼薄膜表面,調整測頭位置,使其與薄膜表面接觸。然后按下測量鍵,等待儀器自動(dòng)完成測量。測量完成后,液晶屏幕上會(huì )顯示薄膜的厚度值。
通過(guò)以上方法,我們能夠正確地使用薄膜測厚儀,并獲得準確的測量結果。在生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,準確的薄膜厚度測量是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。因此,掌握測厚儀的使用方法,對于生產(chǎn)和質(zhì)量控制來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。